Forskningsrådet har bevilget 25 millioner kroner til nye instrumenter som forskerne ved SINTEF, NTNU og Universitetet i Oslo skal benytte.
Forskerne påpeker at det er en økende betydning av overflateanalyse innenfor nanoteknologi.
Nye prosjekter
– Det blir et kjempeløft for forskningen, og vil gi oss muligheter til å realisere nye spennende prosjekter både for norsk industri og i EU-sammenheng, sier Bjørn Steinar Tanem på SINTEF Materialer og kjemi
Store instrumenter
Penge skal i første rekke gå til to avanserte fotoelektronspektrometre (XPS), til ekstra overflatesensitiv analyse, et sekundærionmassespektrometer (SIMS) som er følsomt nok til å detektere sporelementer, lette grunnstoffer og deler av komplekse molekyler samt et instrument spesielt beregnet på katalyse.
Når forskerne forstår strukturen på materialet (atomær, elektronisk) gjennom overflateanalyse, kan de også forstå hvorfor materialet har den yteevnen den har, og hva som kan gjøres for å bedre denne, skriver SINTEF på sine hjemmesider.
Bedre produksjon
– Overflateanalyse inngår i både grunnforskning og industriell forskning der korrosjon, oksidering, slitasjemotstand og adhesjon står sentralt. Skal man utvikle effektive materialsystemer knyttet opp til for eksempel solceller og brenselceller, kreves det også karakterisering av bulk, overflate og eksisterende grenseflater. Slike analyser er viktige for å koble produksjonsmetodikk til materialegenskaper og videre optimalisering av disse, sier Spyros Diplas fra SINTEF.
Store
Plassering av spektroskopene, som krever opp mot 20 m2, er utfordrende, både i Oslo og Trondheim.
Midlene er tildelt innenfor Forskningsrådets program ”Storskala infrastruktur”, og skal gå til anskaffelse av infrastruktur som kan bedre forskningsfeltet.
